SA-Stage-C 单点反射测量支架专为高精度反射测量设计，广泛应用于以下领域：
光学反射性能测试测量光学层（如薄膜涂层）的反射率，特别适用于高厚度（达 150 mm）的样品，满足多种复杂光学需求。
材料反射特性分析评估金属、玻璃、塑料等基底的反射特性，用于材料选择和反射性能优化。
光学研发与教学实验为实验室和科研项目提供可靠的反射测量平台，适合教学和光学研究应用。
SA-Stage-C单点反射测量支架是一个固定反射光纤的支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。适于固定直径6.35mm的反射光纤，调节高度80mm。产品特点
◆ 适用广泛：支持厚度达 150 mm 的光学层和其他基底的反射测量，满足多种材料需求。 ◆ 高兼容性：专为直径 6.35 mm 的反射光纤设计，提供稳固固定，确保测量精确。 ◆ 灵活调节：配备高度可调功能，调节范围达 80 mm，适应不同实验要求。 ◆ 精密设计：结构紧凑，操作方便，专为单点反射测量优化，确保高重复性和稳定性。
