材料科学
该系统通过高空间分辨率的光谱数据采集，可对微米甚至纳米级别的样品进行细致分析。能够对材料的化学成分、分子结构、晶体结构以及薄膜厚度等进行高精度的分析。
适用于研究和开发新型材料、薄膜技术、光电器件，以及镀膜镜片等各种光学元件及光学材料的透反射率的研究。
SPF705滤光片透射率光谱
Mapping扫描
微区透反射系统mapping扫描是一种高精度的分析技术，通过显微系统将光源聚焦到样品的微小区域，然后收集该区域的透反射光谱信息。通过在样品表面上逐点扫描，可以生成整个样品区域的光谱图，从而得到样品的二维或三维光谱分布信息，能够在微观尺度上对样品的透射和反射特性进行测量。这种技术广泛应用于材料科学、化学分析、生物医学、法医鉴定和环境监测等领域。
最小采样光斑
* 光谱仪可根据客户需求定制光谱范围、分辨率等参数
传统测量样品透/反射率的光纤探头光斑直径最小仅能达到1-2mm左右，光斑直径限制了样品的大小以及光谱空间分辨率，而若要获得样品更微小的尺度的光谱信息，通常的做法是与显微系统连用。微区透反射光谱测量系统即是将光谱分析技术与显微光路结合，最小采样可在微米级尺度上采集样品的光谱信息，广泛应用于物理、化学、生物等行业材料光谱性能研究。本系统采用光纤共焦照明方式，与传统的科勒式照明相比，共焦照明方式可获得更小的采样直径，即具有更高的空间光谱分辨率。产品特点
◆ 模块设计：通过在显微镜中加装拓展模块实现光谱测量，同时可在客户现有显微镜基础上定制相应检测模块。 ◆ 共焦设计：光源光路与光谱仪接收光路共轴，独特的共焦设计使得测量“所见即所得”，并且系统的杂散光可以得到有效抑制。 ◆ 宽光谱检测范围：搭配如海光电的光纤光谱仪，可实现350~1700nm宽光谱测量。 ◆ 灵活选配与升级：该系统除可实现透反射测量外，同时可根据客户需求在此基础上添加特定测量模块从而实现透反射+拉曼+荧光多光谱测量。 ◆ 高精度测量：自动移动平台最小步进1μm，可实现微小区域光谱扫描测量。
